新闻详情

X荧光分析仪疑难问题2

日期:2019-09-28 03:26
浏览次数:54
摘要: 105.金属镀层和pcb版用xrf怎么测试呢? (1) 一般镀层可以采用薄膜FP法,PCB可以粉碎后混测. (2) **测量涂层,只有有双层膜FPM法,但实际**水平将会还一些难题.置于PCB板,买个扫描仪的设备吧,能够先将木板扫描仪,随后再明确哪家点将会不太好,*终再**定量分析,只有价钱不划算 106.X荧光熔融法测定高岭土怎么测?一般情况下,用Li2B4O7 1100度,熔剂:样品=10:1,就能把样品很好的熔开。别忘了加点脱模剂哦。高岭土有标样的,应该很好做的107.X-RAY能否穿透5um厚的Ni镀层?检测Pb含量时是否会测到基体(快削钢)...

105.金属镀层和pcb版用xrf怎么测试呢?

(1) 一般镀层可以采用薄膜FP法,PCB可以粉碎后混测.

(2) **测量涂层,只有有双层膜FPM法,但实际**水平将会还一些难题.置于PCB板,买个扫描仪的设备吧,能够先将木板扫描仪,随后再明确哪家点将会不太好,*终再**定量分析,只有价钱不划算

106.X荧光熔融法测定高岭土怎么测?一般情况下,用Li2B4O7 1100度,熔剂:样品=10:1,就能把样品很好的熔开。别忘了加点脱模剂哦。高岭土有标样的,应该很好做的107.X-RAY能否穿透5um厚的Ni镀层?检测Pb含量时是否会测到基体(快削钢)内含的Pb

(1) 据说穿透厚度为2mm

(2) 毫无疑问能测出,你获得的Pb含水量包括部分化学反应。

(3)能够穿透,数据测试里边早已包括有化学反应里的Pb。

(4) 金属可以穿透0.1mm,塑胶可以穿透3mm

(5) 能够透过Ni层,一起还可以检验到板材里的Pb,提议你创建程序流程的那时候用板材替代Fe的无穷的厚规范片,那样实际效果会好点。

(6) 〉X-RAY能否穿透5um厚的Ni镀层?Ni镀层的话,大概到20um厚的镀层,可以正确测定。〉检测Pb含量时是否会测到基体(快削钢)内含的Pb快削钢内的Pb=0.1`-0.35%使用4kW/WDX-XRF的话,容易地可以的。使用EDX-XRF的话,还可以。WDX,EDX应该都用工作曲线法。用FP法的话,精度不好,不能正确测定。*工作曲线法的标准样品比如,MBH 14MBS70B-75F(5个)

108.XRF用以刷选主要用途的那时候,假如碰到夹层玻璃和磁石试品,大伙儿应当哪种方式去检测呢?

(1) 针对磁石试品,通常状况下是不可以立即放进XRF中来测量的,否则早已去磁。两个原因:磁场会导致电子偏转。太强的电磁场将会促使灯丝发射点的电子器件不射向靶材只是照射到Be窗,时间久了会使Be窗被热击穿,造成X-Ray光管毁坏。一起,电磁场的存有,会使**测量结果造成挺大的误差,强制**测量获得的结果也没什么实际意义。其次,磁场有可能将仪器内部磁化,会给以后测量结果带来很大的偏差。

(2) 还有一些其它的物质都是不能放进EDX里面测试的,例如具有挥发性、腐蚀性的液体。

(3) 假如是无机物残渣得话,提议用盐酸消除后,用光度法,原子吸收仪法或低温等离子发射光谱法测较为好,通常夹层玻璃里的无机物正离子含水量太低的,XRF测出不来的吧

109.请问准直器的用处主要是做什么的?另外它的结构是什么样子的?这是一个单独的部件吗?

(1) 功效是将散发放射线变为平行面放射线束,是由一连串间距不大的金属制品做成

(2) 准直器由平行金属板组成,两块金属片之间的距离有100um(2/3S)、150um(1S)、450um(3S)等。片间距越小,分辨率越高,强度也越小

(3) 光纤准直器是光纤通信系统的*基础电子光学元器件,其功效是把光纤线中散发的光线变为准直光,使其以十分小的耗损藕合到光纤线中。

(4) 准直器有方形的,也是环形的,是限定X相匹配于试品的**测量功效范畴.

110.我想问一下光波长光学散射型荧光光谱和动能光学散射型荧光分析仪的差别多少钱?

(1) 光波长色折的**测量的精度要好点,动能的平稳比不上光波长色折,动能型的**测量高含水量比不上光波长的。当前功能暂时只支持*多300字的整句智能原创 ,如果超过300字,请手动处理。

(3) 1.波长色散的仪器比能量色散的仪器分辨率要高。所以更适合复杂的样品分析。2.波长色散的仪器软件操作比能量色散的仪器的软件要简单一些。3.波长色散的仪器定量分析结果要比能量色散的仪器准确。

(4) 差别非常的大:首先说说硬件:1)从X光管来说,能量型的*高只有600W,而波长型的*少是1KW.2)波长型的有分光晶体,而能量型的没有.3)探测器不同,能量型一般是普通半导体检测器,Si(Li)探测器或者Si漂移探测器及高纯硅探测器;波长型的主要是流气探测器和闪烁探测器或者封闭探测器.4)波长型的有测角仪,而能量型的没有.还有其他一些方面不多说了下面说说软件和应用方面的差别:1)从检测限上来讲,波长型的*低检测限要比能量型的更低,(600W的能谱在检测重元素的时候检测限比波长型的更低一些)2)检测的元素范围,波长型的是Be~U,而能量型的一般是Na~U,3)定量精度和准确度,波长型要比能量型的好,(600W的能量型除外)4)波长型的软件种类更多,可用于各行各业还有其他很多方面不一一列举了.

(5) 能散和波散的差别应当先从x射线特性谈起:x射线是这种光波长很短的无线电波,光波长在10 E-10量级,因此x射线具备显着的波、粒二项性,从经典基础理论去了解,能够 了解为x射线既具用波的特点,又具备物体的特点。波具备光波长、频率,也有反射面、折射角、透射、干预等特性,而物体具备品质、速率、机械能、重力势能等特性。从波的特性去了解,运用的X荧光分析仪叫光波长光学散射型荧光光谱;从动能视角了解,运用的X荧光分析仪叫工作能力光学散射型荧光光谱,动能和光波长的关联给出:E=hc/λ E:动能;h:普朗克常数;c:超快速;λ:光波长从仪器设备的构造上讲,因为应用基础理论原理的不一样,光波长色折型X荧光光谱构造非常复杂(通常多道包含:静电发生器、x光管、结晶、探测仪、单脉冲分析器及数据处理系统等;单道包含静电发生器、x光管、扫描机、结晶、探测仪、单脉冲分析器及数据处理系统等),动能光学散射型X荧光分析仪构造非常简单(静电发生器、x光管、探测仪、单脉冲分析器及数据处理系统等)。长散射型荧光光谱技术较为成熟,但因为结构复杂,价格较高;能量散射型X荧光光谱仪,由于结构比较简单,价格较低,而且由于近几年探测器技术的日趋成熟,能谱仪的性能也越来越接近波谱仪。不管怎样,仪器设备没有精良的,*合适的就是说*好是的。

(6) X光管方面,波长的也有功率低的,主要分什么类型的,固定道还是扫描道,固定道的也有200W的。波长的也不一定有测角仪,固定道的晶体和探测器的角度都是调好的,不需测角仪,但是缺点就是测量元素是固定的,需要在购买之前和厂家说好测量元素。